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CX-118A晶振测试仪

产物介绍：

一、CX-118A晶振测试仪，采用微处理器技术，实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。它测量精度高，灵敏度高，速度快，闸门时间可选；具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能；中心频率（标称频率）F0、分档值Pr1 ～Pr8 (ppm) 、上限频率FU 、下限频率FL可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿公司的生产和科研之"用。。

具有PPM测量功能，预置频率F0可任意设置。该功能特别适合于晶体振动器生产公司，测试结果显示直观。

主要功能：频率测量，PPM测量，周期测量，数据累计 ，功能设定

二、CX-118A晶振测试仪主要技术指标：

主要测试时钟晶振： SMD2012，SMD3215，SMD7015，SMD8038贴片封装32.768KHz 时钟晶振

频率测量灵敏度：30mv

PPm测量：3KHz — 100MHz

PPm测量精度：≤1 PPm （1×10-6）

（可扩展0.1PPm ， 0.01 PPm）

中心频率：0 Hz — 100 MHz任意设定

误差设置范围设定：&辫濒耻蝉尘苍; 1 — ± 999 PPm任意设定。

闸门设置：四档 ，0.01s、 0.1s、1s叁档固定，

1档闸门1ms — 10s可设，

每1mS为一阶梯任意设定。

周期测量范围：100 ms — 10 s

晶振稳定性：5 ×10-7 / 日

时基频率：OCXO--10MC

叁、特点：

微机控制，可编程器件开发， 模块化设计

100MHz同步等精度测量方式

SMT贴装生产、工艺，全新小型化结构设计

9位LED显示

PPm提示功能

2、产物外观图：